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论半导体器件参数的分散性

The Dispersion of Semiconductor Apparatus' Parameter

作     者:康裕荣 康向东 KANG Yu-rong;KANG Xiang-dong

作者机构:江西理工大学机电工程学院江西赣州341000 江西理工大学建筑与测绘工程学院江西赣州341000 

出 版 物:《江西理工大学学报》 (Journal of Jiangxi University of Science and Technology)

年 卷 期:2008年第29卷第2期

页      面:5-8页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

主  题:载流子 能带 分散性 

摘      要:从半导体的基础知识、半导体的能带结构、杂质半导体中载流子的运动速度、半导体器件的特点、PN结等方面论述了为什么半导体器件的参数具有分散性.

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