激光和压电传感器密集型矩形阵列成像质量的比较分析

作     者：刘增华 马春雷 陈洪磊 冯雪健 何存富 吴斌 LIU Zenghua,MA Chunlei ,CHEN Honglei,FENG Xuejian,HE Cunfu,WU Bin

作者机构：北京工业大学机械工程与应用电子技术学院北京100124 

出 版 物：《北京工业大学学报》 (Journal of Beijing University of Technology)

年 卷 期：2018年第44卷第8期

页      面：1075-1081页

学科分类：0810[工学-信息与通信工程] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 081102[工学-检测技术与自动化装置] 0811[工学-控制科学与工程] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(51475012 11272021) 北京市属高等学校高层次人才引进与培养计划资助项目(CIT&TCD201304048) 

主　　题：激光Lamb波 压电传感器 密集型矩形阵列 连续小波变换 符号相干因子成像 

摘      要：为了能够提高分辨率和信噪比,抑制旁瓣和栅瓣,提出了一种基于阵列数据相位差的成像方法.将压电传感器阵列和激光阵列分别与幅值成像和符号相干因子成像相结合对铝板中缺陷进行检测研究.采用连续小波变换对宽频带、低时域分辨率的激光Lamb波信号进行处理,得到特定频率下具有高时域分辨率的窄带信号.最后,结合幅值成像技术和符号相干因子成像技术对特定频率提取后的信号进行处理,实现铝板中缺陷的成像和定位.压电传感器阵列成像结果和激光阵列成像结果对比表明:充分利用激光阵列非接触、点聚焦的优点,能够有效地减少赝像,使得缺陷定位更加准确.