晶体管内在质量的检测方法
作者机构：浙江大学分析测试中心 浙江大学计算中心
出 版 物：《中国照明电器》 (China Light & Lighting)
年 卷 期：1999年第2期
页 面：27-29页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 0803[工学-光学工程]
摘 要：晶体管的内在质量对节能灯的可靠性有很大的影响，但用特性图示仪等普通仪器进行测量，只能得到一般的外部电性能，无法知道芯片在制造和封装时的质量情况。如果芯片的洁净度不够，在表面钝化前受到较严重的沾污，晶体管在高温时的反向漏电就会大大增加，严重影响晶体管的...
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