微分进化算法在头部电阻抗成像中的应用
Application of DE Algorithm for Brain Imaging Using EIT作者机构：河北工业大学电气与自动化学院天津300130
出 版 物：《中国生物医学工程学报》 (Chinese Journal of Biomedical Engineering)
年 卷 期：2005年第24卷第6期
页 面：672-675,695页
核心收录：
学科分类：0831[工学-生物医学工程（可授工学、理学、医学学位）] 080804[工学-电力电子与电力传动] 080805[工学-电工理论与新技术] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 0836[工学-生物工程]
基 金：高等学校博士学科点专项科研基金(20040080008) 河北省自然科学基金资助项目(E2004000054 E2005000047)
摘 要：电阻抗成像(EIT)技术是一种功能成像技术,它向未知目标注入(安全)电流,通过测得目标边界的电位来估计它内部的阻抗分布情况。电阻抗成像是一个严重病态的非线性逆问题。本研究应用微分进化算法进行电阻抗成像,并将其用于二维真实头模型的阻抗重建中。仿真结果显示,作为一种简单、鲁棒的算法,微分进化算法在EIT成像中具有优越的性能。
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