近红外偏振探测器校正方法

作     者：黄飞 李范鸣 王世勇 陈超帅 石永彪 HUANG Fei1,2,3, LI Fan-Ming1,3, WANG Shi-Yong1,3, CHEN Chao-Shuai1,2,3, SHI Yong-Biao1,2,3

作者机构：中国科学院红外探测与成像技术重点实验室上海200083 中国科学院大学北京100049 中国科学院上海技术物理研究所上海200083 

出 版 物：《红外与毫米波学报》 (Journal of Infrared and Millimeter Waves)

年 卷 期：2018年第37卷第3期

页      面：302-306页

核心收录：

学科分类：080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程] 

基　　金：国家十三五国防预研项目(Jzx2016-0404/Y72-2) 上海市现场物证重点实验室基金资助项目(2017xcwzk08)~~ 

主　　题：红外偏振 透射率校正 角度校正 线偏振度 

摘      要：近红外偏振探测器是近年来一种新的探测器结构,它将光栅附在了焦平面探测器的表面.为了解决光栅透射率和角度不均匀对线偏振度测量的影响,采用了一种新的线偏振度求解方法.该方法对光栅透射率和光栅角度进行了校正,消除了光栅透射率和光栅角度不均匀性对线偏振度测量的影响,理论上表明了红外偏振成像质量与光栅透射率和光栅角度无关.实验结果显示,在使用黑体作为标定光源和不考虑偏振像元之间串扰的情况下,采用原有的计算方法得到的结果是真实值的14%~24%,透射率校正后的结果是真实值的80%~120%,透射率和角度校正后的结果是真实值的96%~104%.