一个基于扫描方法的DFT设计与实现

作     者：张炜杰 陈亦灏 沈怿皓 赖宗声 段春丽 ZHANG Wei-jie;CHEN Yi-hao;SHEN Yi-hao;LAI Zong-sheng;DUAN Chun-li

作者机构：华东师范大学微电子电路与系统研究所上海200062 上海士康射频技术有限公司上海200437 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2008年第25卷第5期

页      面：169-172页

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 

基　　金：上海市科委项目(06SA14) 上海市经委信息办基金项目(04-联专-001) 

主　　题：可测性设计 扫描测试 扫描链 故障覆盖率 

摘      要：DFT技术已经成为集成电路设计的一个重要组成部分.详细介绍了基于扫描测试的DFT原理和实现步骤,并对一个32位FIFO存储器电路实例进行扫描设计.根据扫描链的特点和电路多时钟域问题,采用了三种设计方案,整个流程包括了行为级Verilog代码的修改、扫描设计综合以及自动测试模板产生(ATPG).对不同的设计方案给出了相应的故障覆盖率,并对生成的模板进行压缩优化,减少了测试仿真时间.最后分析了导致故障覆盖率不同的一些因素和设计中的综合考虑.