高压直流GIL中盆式绝缘子表面电荷积聚与消散的实验研究
Experiment Study of Surface Charge Accumulation and Decay on a Cone-type Insulator in HVDC GIL作者机构:清华大学电机工程与应用电子技术系北京100084 清华大学电力系统及大型发电设备安全控制和仿真国家重点实验室北京100084 中国电力科学研究院北京100192
出 版 物:《高电压技术》 (High Voltage Engineering)
年 卷 期:2015年第41卷第5期
页 面:1430-1436页
核心收录:
学科分类:080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学]
基 金:国家重点基础研究发展计划(973计划)(2014CB239502)
主 题:高压直流 GIL 表面电荷 盆式绝缘子 积聚 消散 静电探头
摘 要:研究直流电压下绝缘子表面电荷积聚及其抑制措施,是开发直流气体绝缘管道输电线路(GIL)的一项关键技术。因此建立了一套盆式绝缘子表面电荷测量系统,采用静电探头法,在空气中对施加了直流电压后的环氧树脂盆式绝缘子进行了表面电位的测量,研究了不同极性、不同幅值电压以及极性反转情况下表面电荷的积聚现象,并对表面电荷的消散进行了测量。实验结果表明:绝缘子表面电荷分布与所施电压极性密切相关;在0.5 MPa空气中,随着施加电压幅值(+40^+70 kV)增加,绝缘子表面电荷急剧增加(负电位最大处从-200 V增加到-3 000 V);在0.5 MPa空气中,先后施加+70 kV及-40 kV电压,绝缘子局部表面电荷激增现象明显(正电位最大处由500 V增大到超过2 500 V);在0.1 MPa空气中施加+40 kV电压,在0~300 min内,绝缘子表面电荷消散近似指数衰减过程,时间常数约为104 s数量级。