基底瓷与饰面瓷厚度配比对IPS ***全瓷冠断裂载荷的影响

作     者：靳海立 沈丽娟 段嫄嫄 孙志荣 邓再喜 刘更 贾骏 JIN Hai-li,SHENG Li-juan,DUAN Yuan-yuan,SUN Zhi-rong,DENG Zai-xi,LIU Geng,JIA Jun(School of Stomatology,The Fourth Military Medical University,Xi′an 710032,China)

作者机构：第四军医大学口腔医学院陕西西安710032 

出 版 物：《牙体牙髓牙周病学杂志》 (Chinese Journal of Conservative Dentistry)

年 卷 期：2012年第22卷第5期

页      面：280-283,301页

学科分类：08[工学] 080502[工学-材料学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 

主　　题：厚度配比 IPS e.max铸瓷 断裂载荷 

摘      要：目的:比较不同基底瓷饰面瓷厚度配比对IPS ***全瓷冠断裂载荷的影响,为临床上全瓷冠的优化设计提供参考依据。方法:加工IPS ***类似全瓷冠试件,控制咬合面和轴壁总厚度均为1.50 mm,其基底瓷与饰面瓷厚度比分别为1∶4(a组)、1∶2(b组)、1∶1(c组)、2∶1(d组)和4∶1(e组)五组(n=60),应用Hertzian接触实验对试件进行加载,测量试件的断裂载荷并计算其平均值和标准差。结果:1∶4(a)组断裂载荷最小(3 253.13 N),4∶1(e)组最大(5 447.08 N),且随厚度配比比例增加,断裂载荷增大。经方差分析,a、b、c、d、e五组断裂载荷平均值总体差异有统计学意义(P0.05)。结论:基底瓷饰面瓷厚度配比对IPS ***全瓷冠断裂载荷有较大影响,且影响IPS ***双层试件的断裂方式。