1991年国际工业CT会议论文题录

作     者：罗健 

出 版 物：《无损检测》 (Nondestructive Testing)

年 卷 期：1992年第2期

页      面：59-60页

学科分类：08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 

主　　题：会议论文 背散射 成象 会议录 国际工业 题录 检索工具 CT 

摘      要：第二届国际工业CT年会于1991年5月20～24日在美国加利福尼亚的圣地亚哥举行,此次会议由美国无损检测协会技术委员会和穿透辐射委员会发起,共收到美国、澳大利亚、德固、日本、法国、加拿大、英国等国家科研人员的论文50多篇。主要包括 CT 在工业上的应用、技术和系统性能、高分辨率 CT的应用、背散射成象、CT 系统、图象重建和分析几个方面。会议期间,由 Imatron Inc.的总裁 Doug-las *** 和 Bio—Imaging Research,Inc.的 Lowell *** 分别做了CT 的发展趋势和定量化的 X 射线 CT的主题演讲。由科学测量系统公司的 Forrest Hopkins 举行了CT 基础讲座。另外ARACOR;Bio-Imaging Research,Inc.;NDV System,National NDT Centre,Scientific MeasurementSystem;Philips Electronic Instruments;Vital Images,Inc.、Reality Imaging Corporation,RTS Te-chnology,Inc.和 SMIS 公司进行了展示。现将本届专题会议论文题录介绍如下: