平面结构非均匀体系的介电驰豫─—组成相的数目与电导对弛豫的影响

作     者：赵孔双 花井哲也 

作者机构：厦门大学化学系固体表面物理化学国家重点实验室京都大学化学研究所 

出 版 物：《电化学》 (Journal of Electrochemistry)

年 卷 期：1995年第1卷第3期

页      面：319-326页

核心收录：

学科分类：07[理学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 0702[理学-物理学] 

基　　金：中国博士后科学基金 

主　　题：界面极化 介电驰豫 非均匀体系 电导 

摘      要：非均匀体系在０．１ｋＨｚ～１０ＭＨｚ频率范围显示出显著的介电弛豫，为了弄清介电弛豫的原因以及该弛豫与非均匀体系界面数目的关系，本文从介电的观点在理论及实验两方面讨论了典型的非均匀体系的例子：膜／溶液体系。特别地，对频率域的介电弛豫谱与组成相的结构及浓度的关系进行了分析，并在Ｍａｘｗｅｌｌ－Ｗａｇｎｅｒ机理的基础上现象论地解释了弛豫的原因。非均匀体系的介电弛豫性质具有下列特征：（１）介电弛豫数目等于体系内界面种类的数目；（２）特征弛豫频率紧密地依存于溶液相的电导。