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错位双层膜结构全光谱减反射特性研究

The Study of Full Spectrum Anti-Reflectance Properties of Misaligned Stacked Double-Layer Structure

作     者:郑立凯 宣益民 ZHENG Li-Kai;XUAN Yi-Min

作者机构:南京航空航天大学能源与动力学院南京210016 

出 版 物:《工程热物理学报》 (Journal of Engineering Thermophysics)

年 卷 期:2017年第38卷第2期

页      面:277-280页

核心收录:

学科分类:08[工学] 080502[工学-材料学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 

基  金:国家自然基金资助项目(No.51590901) 

主  题:全光谱 减反射 缓变折射率 微结构 

摘      要:随着光伏-热电耦合系统的提出,具有宽光谱减反射特性的表面微结构成为太阳能高效利用的关键。本文基于传统TiO_2/SiO_2减反射膜,结合硅纳米柱,提出一种错位膜层复合结构,并从电磁场理论出发,运用时域有限差分方法研究其光谱反射特性,并分析了结构参数对光谱特性的影响。研究结果表明,通过调节复合结构特征参数,可以得到具有宽光谱特性减反射结构,结构平均反射率约为0.032。

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