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接触接近式光刻机微力找平技术

The Micro-force Paralleling Technology of Mask Aligner

作     者:李霖 周庆奎 LI Lin;ZHOU Qingkui

作者机构:中国电子科技集团公司第四十五研究所北京100176 

出 版 物:《电子工业专用设备》 (Equipment for Electronic Products Manufacturing)

年 卷 期:2016年第45卷第11期

页      面:26-28页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

主  题:光刻机 微力找平 厚胶光刻 

摘      要:介绍了一种微力找平技术,该技术应用气缸及间隙找平机构,可满足厚胶光刻工艺要求。

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