用能化电子效应考察二次离子的发射机理
THE MECHANISM OF THE SECONDARY ION EMISSION INVESTIGATED BY THE EFFECT OF ENERGETIC ELECTRONS作者机构：复旦大学现代物理研究所 复旦大学现代物理研究所
出 版 物：《物理学报》 (Acta Physica Sinica)
年 卷 期：1984年第10期
页 面：1475-1479页
学科分类：08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
主 题：表面势 电子隧道效应 产额 通常条件 离子发射 功函数 电子效应 质谱计 电子束流 能量谱
摘 要：用能化电子改变样品的表面势,测量多种二次离子产额的能谱,发现在通常条件下,特别当存在氧增强发射时,离子的存活几率不为共振电子隧道效应所影响。动力学参量的数据表明,决定离子产额的表面势是高度局域的。并可推论电子束照射对二次离子质谱的定量分析可起有益的效用。
同方期刊数据库