等离子体辐照材料的实验研究
EXPERIMENT AND RESEARCH ON MATERIALS IRRADIATED BY PLASMA RADIATION作者机构：核工业西南物理研究院 成都 核工业西南物理研究院
出 版 物：《中国核科技报告》 (China Nuclear Science and Technology Report)
年 卷 期：1992年
页 面：685-696页
主 题：涂层表面 XDS XPS 辐照 SiC 等离子体 托卡马克 TiC 再循环系数 晶面距
摘 要：利用HL-l装置的等离子体辐照研究了石墨基体上的TiC、SiC涂层和壁碳化。对辐照前后的样品进行俄歇电子能谱(AES)、扫描电镜(SEM),X射线光电子谱(XPS)和X射线衍射谱(XDS)分析。结果表明,TiC和SiC材料应用于孔栏和壁涂层以及壁碳化有利于减少金属重杂质和氧杂质水平,提高了等离子体品质。
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