Josephson结与谐振腔耦合的数值研究
STUDY OF CAVITYCOUPLED JOSEPHSON DEVICE USING NUMERICAL METHOD作者机构:南京大学电子科学与工程系微结构科学技术高等研究中心
出 版 物:《南京大学学报(自然科学版)》 (Journal of Nanjing University(Natural Science))
年 卷 期:1998年第34卷第1期
页 面:57-63页
核心收录:
学科分类:080705[工学-制冷及低温工程] 07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 0807[工学-动力工程及工程热物理] 0702[理学-物理学]
主 题:Josephson结 谐振腔 耦合 Shapiro台阶 超导体
摘 要:根据谐振腔与Josephson结耦合结构的等效电路模型,用数值计算方法研究了结与谐振腔互作用时的Josephson效应,得出了腔感应电流台阶高度与谐振电路的品质因素Q值之间的关系;在外加微波辐照下,发现Shapiro台阶高度随微波功率的变化规律也有变化,并计算了损耗电阻RL对耦合结构Shapiro台阶高度随微波功率变化关系的影响.基于以上关系,我们提出了利用腔结耦合测量超导薄膜表面电阻的初步设想.