咨询与建议

看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >SiCl4-SiH4-H2混合源的硅外延生长 收藏

SiCl4-SiH4-H2混合源的硅外延生长

Silicon Epitaxy of the SiCl;-SiH;-H;System

作     者:汤广平,刘明登,全宝富,赵慕愚 

作者机构:吉林大学电子科学系 吉林大学电子科学系 吉林大学电子科学系 吉林大学电子科学系 

出 版 物:《Journal of Semiconductors》 (半导体学报)

年 卷 期:1986年第6期

页      面:602-607页

学科分类:0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 

主  题:硅外延 衬底 外延层 均匀性 自掺杂 低压 淀积 基片 电压 掺杂效应 杂质分布 SiCl4-SiH4-H2 化学反应 外延生长 晶体生长 生长速率 热分解 分解反应 SIH 反应室 

摘      要:本文探讨了SiCl4/SiH4/H2混合源常压和低压硅外延生长技术.实验结果表明,混合源兼有SiCl4和SiH4两者的优点,并在一定比例下具有SiH2Cl2源的特性.它能降低外延生长温度、调节淀积速率,改善淀积的均匀性和抑制自掺杂效应.因此它可适应多种器件的要求.

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分