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深紫外正性抗蚀剂聚甲基异丙烯基酮的增敏与改性

Speed Enhacement and Modification of Poly(methyl Isopropenyl ketone) Positive Resists for Deep-UV Lithography

作     者:陈扬中 毛临淵 徐僖 Chen Yungzhong Mao Lingyuan Xu Xi

作者机构:成都科技大学高分子材料科学系 

出 版 物:《成都科技大学学报》 

年 卷 期:1982年第2期

页      面:55-60页

学科分类:08[工学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

主  题:GMA 分子量分布 增敏 抗蚀剂 深紫外 沉淀聚合 聚合方法 溶液聚合 本体聚合 整体聚合 改性 

摘      要:近年来为制造超大规模集成电路(VLSI)需要获得超细线条。人们对电子束和X-射线复印技术进行了大量的研究和开发工作,但由于技术复杂和设备昂贵还难以进入实用阶段。虽然电子束曝光方法已能制备1 u或亚微米细线图形的掩模,但是把这种技术用于大生产中复印器件图形是很不经济的。因而人们把注意力移向深紫外复印技术上。有关这种技术的特点和优点已在许多文章中报导过

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