分子取向的高分辨率扫描隧道显微术(英文)
High-resolution scanning tunneling microscopy for molecular orientations作者机构：中国科学技术大学结构分析开放实验室 中国科学技术大学中国科学技术大学结构分析开放实验室选键化学开放实验室安徽合肥230026
出 版 物：《电子显微学报》 (Journal of Chinese Electron Microscopy Society)
年 卷 期：2002年第21卷第3期
页 面：306-310页
核心收录：
学科分类：0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 0702[理学-物理学]
基 金：NSF ICQSofChineseAcademyofSciences NKBRSFofChina (No .G1 9990 75 3 0 5 )
主 题：高分辨率扫描隧道显微术 扫描隧道显微镜 分子取向 C60 碳 分子阵列 多层膜 单层膜
摘 要：本文介绍了一种借助于扫描隧道显微镜的空间高分辨能力探测单个分子取向的方法。利用这种方法 ,我们研究了以下四种体系中的分子取向 :二维C6 0 分子阵列 ;C6 0 (1 1 1 )多层膜表面 ;吸附在Si(1 1 1 ) (7× 7)表面的C6 0 单分子 ;Au(1 1 1 )表面的硫醇自组装单分子层膜。结合局域密度近似方法理论计算 。
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