高Tc超导薄膜颗粒边界的特性研究
CHARACTERISTICS OF SINGLE GRAIN BOUNDARY IN HIGH T;SUPERCONDUCTING THIN FILM作者机构：南京大学电子科学与工程系，微结构科学技术高等研究中心，南开大学电子学系
出 版 物：《低温物理学报》 (Low Temperature Physical Letters)
年 卷 期：1995年第17卷第4期
页 面：249-252页
核心收录：
学科分类：080705[工学-制冷及低温工程] 07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 0807[工学-动力工程及工程热物理] 0702[理学-物理学]
主 题：颗粒边界 直流特性 高频特性 超导薄膜 T_c 梗梗 光刻图形 特性研究
摘 要：我们通过对Ｙ系、Ｔ１系颗粒薄膜的研究，用光刻图形技术结合控制化学湿刻的办法制备出边界结构比较单纯的薄膜颗粒边界结，用扫描电镜（ＳＥＭ）对颗粒边界的形貌和成分进行了分析，测量了这种颗粒边界结的直流特性和高频特性以及微波辐射功率与射频感应台阶幅度的关系．实验结果表明，用这种方法获得的单颗粒边界结具有与ＲＳＪ模型相符合的Ｊｏｓｅｐｈｓｏｎ特性．
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