光声光谱法研究光学薄膜的吸收特性
作者机构：中国科学院力学研究所 中国科学院力学研究所
出 版 物：《光学学报》 (Acta Optica Sinica)
年 卷 期：1988年第7期
页 面：643-647页
学科分类：07[理学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 0702[理学-物理学]
摘 要：本文以“一维热流活塞模型为基础,推导出薄膜光声表达式,光声信号的幅值正比于吸收率.测量了透明基底上光学薄膜的光声吸收谱,实验结果与理论一致.尤其是测量弱吸收薄膜的吸收谱时,具有较高的灵敏度和实用性.
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