二阶Wedgelet快速分解及其在工业CT图像线特征提取中的应用

作     者：李宗剑 邹晓兵 LI Zong-jian;ZOU Xiao-bing

作者机构：重庆第二师范学院数学与信息工程系重庆400067 

出 版 物：《光学精密工程》 (Optics and Precision Engineering)

年 卷 期：2015年第23卷第11期

页      面：3238-3245页

核心收录：

学科分类：081203[工学-计算机应用技术] 08[工学] 080502[工学-材料学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0835[工学-软件工程] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

基　　金：重庆市教委科学技术研究项目(No.KJ131505) 重庆市基础与前沿研究计划资助项目(No.cstc2014jcyjA40040) 

主　　题：二阶Wedgelet分解 线特征提取 多尺度几何分析 工业CT图像 

摘      要：为了对工业CT(ICT)图像中的线特征进行有效提取,提出一种基于二阶Wedgelet快速分解的特征提取方法。首先,介绍了二阶Wedgelet分解的定义,根据二阶Wedgelet基函数的构成将其划分为3种(同边型、邻边型、对边型)不同类型。根据不同类型基函数间的空间关系设计出二阶Wedgelet快速分解算法。在此基础上,在不同的单尺度上分别提取了各自的候选线特征。最后,结合多尺度四叉树结构,融合不同单尺度的候选线特征得到最终提取结果。对实际ICT图像进行了线特征提取实验,对比试验结果验证了提出方法的有效性和先进性,表明基于二阶Wedgelet快速分解的ICT图像线特征提取方法能有效地提取ICT图像感兴趣的线特征,对其它类型图像的线特征提取也具有一定的参考价值。