表征固态物质的新分析仪器的研究
Developing New Instrumentation for Characterization of Solid Materials作者机构：日本东京大学工学部 日本东京大学生产技术研究所 日本山形大学工学部 日本山形大学工学部
出 版 物：《分析化学》 (Chinese Journal of Analytical Chemistry)
年 卷 期：1984年第8期
页 面：639-651页
学科分类：08[工学] 0813[工学-建筑学] 0814[工学-土木工程]
主 题：表征 固态物质 GaAs 电子光谱仪 晶体结构 结晶构造 固体结构 光电子谱 分析仪器 压力变化 电子衍射法 光声光谱法 原子层 PAS
摘 要：研究材料科学特别是固态物性时,首先必须弄清楚研究对象材料的组成和结构,求出它们与物性之间的关系,然后以此组成和结构为目标生产出具有同一物性的材料。这样就需要材料的表征方法,因而这种方法深受重视。表征的对象有以下几个与物质有关的化学情报: 1.关于物质主要成份元素的定性、定量分析以及这些元素的二因次或三因次的分布状态(包括偏析)的情报。 2.有关这些组成元素间的键合方式(离子键、配位键、金属键、共价键)或微观结构
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