基于93000 ATE的高速高分辨率ADC动态参数测试
Measurement of Dynamic Parameters of High-Speed and High-Resolution A/D Converter Based on 93000 ATE作者机构：复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室上海201203
出 版 物：《微电子学》 (Microelectronics)
年 卷 期：2011年第41卷第3期
页 面：474-478页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
摘 要：基于Verigy 93000 ATE,采用外挂高性能晶振和射频信号源的测试方案,实现了11位分辨率AD80141最高400 MHz输入信号的测试。结果表明,输入信号为140 MHz以下时,SNR测试值与目标值相差不到1 dB;输入信号为300 MHz、400 MHz时,SNR测试值分别达到59.46dB和57.03 dB。
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