氧化锌压敏电阻的老化机理
Degradation Mechanism of ZnO Varistors作者机构：中南工业大学粉末冶金研究所长沙410083 中国科学院等离子体物理研究所合肥230031
出 版 物：《功能材料》 (Journal of Functional Materials)
年 卷 期：1993年第24卷第6期
页 面：529-532页
核心收录：
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
摘 要：研究了ZnO压敏电阻的老化现象,提出了一种新的老化机理-线性链理论。该理论认为,在外电场作用下,压敏电阻势垒高度降低;当降低到一定值时,晶界可变电阻转化为线性晶界电阻,从而压敏链转化为线性链。线性链是稳定的,因而压敏电阻老化到一定程度后其电性能将不能完全恢复。
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