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《电子元器件失效分析与典型案例》出版

作     者：高旻洁 

出 版 物：《半导体信息》 (Semiconductor Information)

年 卷 期：2007年第1期

页      面：40-40页

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 

主　　题：失效分析 使用可靠性 出版发行 质量问题归零 国防工业出版社 失效模式 设备研制 失效机理 控制使用 一本 

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