200～1100nm光响应测试系统的研制
200～1 100 nm Light Response Measurement System作者机构：清华大学微电子学研究所北京100084 DetectionTechnologyInc.
出 版 物：《半导体光电》 (Semiconductor Optoelectronics)
年 卷 期：2000年第21卷第4期
页 面：291-292,295页
学科分类：080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程]
摘 要：设计并制作了 2 0 0～ 110 0nm的光响应测试系统 ,该系统工作稳定可靠 ,并可消除光源抖动和突发性光源对测试的影响。
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