一种新型绝缘子带电检测方法—紫外成像法
New Method to Detect Insulation On Line—Ultraviolet Image Method作者机构：成都电业局成都610051
出 版 物：《高电压技术》 (High Voltage Engineering)
年 卷 期：2006年第32卷第6期
页 面：42-44页
核心收录：
学科分类：080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
主 题：泄漏电流法 紫外成像法 线路绝缘子 沿面放电特点 检测
摘 要：用泄漏电流法来检测绝缘子的运行状态是目前常用的检测方法,但有工作量大、数据不能做到综合的分析不足之处。因此提出一种新的检测方法—紫外成像法,即通过用紫外成像仪观察线路绝缘子的紫外成像特点来分析其沿面放电特点,从而判断绝缘子的运行状态。试验证明,绝缘子盐密越大,紫外光子越多;由弱电过程中紫外光子数量可以已能污秽绝缘子的弱电阶段。
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