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用MSO调试基于MCU的混合信号设计

作     者:Johnnie Hancock David Brobst 

作者机构:Agilent Technologies Solutions Cubed 

出 版 物:《中国电子商情》 (China Electronic Market)

年 卷 期:2007年第3期

页      面:66-69页

学科分类:08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术(可授工学、理学学位)] 

主  题:数字信号处理器 设计人员 混合 调试 MCU 测试工具 逻辑分析仪 微控制器 

摘      要:设计人员通常用示波器和逻辑分析仪测试和调试基于微控制器(MCU)和或数字信号处理器(DSP)的混合信号设计。但被称为混合信号示波器(MSO)的新一类测试工具可为嵌入式设计调试带来更多好处。为说明MSO的独特优点,本文将以基于微控制器的混合信号嵌入式设计为例,介绍典型的测试和调试方法。MSO常用于验证MCU以及相关外围硬件产生的各种模拟、数字并行和串行I/O(如12C)信号,其信号质量是否满足要求。

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