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应用于倒装芯片的铜钉头凸点技术

Active Boundary Layer Thinning in Advanced Packaging Electroplating

作     者:Lee Levine Arun Chaudhuri Frank Stepniak 

作者机构:Kulicke & Sofia Industries Inc. Delphi Electronics & Safety 

出 版 物:《集成电路应用》 (Application of IC)

年 卷 期:2006年第23卷第8期

页      面:41-44页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

主  题:倒装芯片封装 凸点 铜钉 I/O 器件 

摘      要:铜钉头凸点技术可以为中低I/O密度的器件提供成本最低的倒装芯片封装。

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