光学坐标测量系统中的关键技术

作     者：邾继贵 王大为 王鑫 叶声华 ZHU Ji-gui;WANG Da-wei;WANG Xin;YE Sheng-hua

作者机构：天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津300072 

出 版 物：《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)

年 卷 期：2007年第36卷第3期

页      面：296-299页

核心收录：

学科分类：0808[工学-电气工程] 080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0802[工学-机械工程] 0825[工学-航空宇航科学与技术] 0704[理学-天文学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(50327501) 天津市应用基础研究重点资助项目(05YFJZJC01700) 

主　　题：计算机视觉 摄像机模型 残差修正 光学坐标测量系统 

摘      要：光学坐标测量系统是建立在数字近景摄影测量技术基础上的一种新型精密测量系统,具有便携性好、精度高、测量范围大、受环境干扰小等优点,适合工业工程的现场测量。针对工业现场精密测量的需求,对摄像机模型进行了分析,提出了摄像机残差修正问题,给出了修正方法及基于双目立体视觉原理的通用坐标测量数学模型。搭建了完整的光学坐标测量系统,测量精度优于±0.1mm/m。