线阵列探测器X射线数字成像试验
X-Ray Digital Radiography Testing with Line Array Detector作者机构：中国航空综合技术研究所北京100028 中国科学院高能物理研究所北京100049
出 版 物：《无损检测》 (Nondestructive Testing)
年 卷 期：2011年第33卷第3期
页 面：37-39页
学科分类：08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
基 金：国防科技工业技术基础科研课题资助项目(T062007A001)
摘 要：通过对钢板对接接头气孔模拟缺陷试件的射线数字透射成像检测试验,分析了线阵列X射线数字透射成像检测系统的透照参数、检测工艺与检测图像质量的关系,得出了影响射线数字透射成像图像质量的一些关键因素,给出了射线数字透射成像检测时应该注意的一些问题。
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