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掺硼多晶硅的制备及其电阻率

作     者:彭昭廉 黄秋芝 喻建英 

作者机构:华中理工大学固电系 

出 版 物:《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期:1992年第8卷第2期

页      面:61-63页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

主  题:硅膜 掺硼 多晶硅膜 制造 电阻率 

摘      要:本文介绍采用APCVD方法制备了掺硼厚多晶硅膜,研究了影响掺硼多晶层的因素及其电阻率的分布,得到一组电阻率或淀积速率与温度、流量以及随位置参量x变化的关系曲线。

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