Cr含量对CuCr触头材料开断能力的影响
作者机构：美国西屋公司
出 版 物：《真空电器技术》
年 卷 期：2001年第2期
页 面：42-47页
学科分类：080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学]
主 题：真空灭弧室 真空断路器 铬含量 铜铬触头材料 开断能力
摘 要：CuCr触头材料中的Cr含量的影响，特别是对大电流开断的影响的研究，迄今为止几乎全部是在试验用真空灭弧室内进行，而不是在实际的真空灭弧室中进行的。触头和它们周围的环境（机电的或气体的）之间可能的相互作用或许需要工业用的真空灭弧室，以便得到一个更切合实际的Cr含量对触头材料综合性能影响的试验判断方法。本文中触头内的Cr含量在5－75wt%的范围内变化，并使用38kV纵磁场真空来灭弧室进行试验。测量了作为Cr含量函数的触头材料的电导率、硬度特性和真空灭弧室的总电阻。在短路电流开断试验的前后，测试了触头材料的交流电压和脉冲电压的耐受能力。触头的电侵蚀性能在真空灭弧室经受仅半个周期的燃弧试验时确定。
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