基于RISC-V的APLIC的设计
作者机构:湖南大学物理与微电子学院 威胜仪表集团
出 版 物:《消费电子》 (Consumer Electronics Magazine)
年 卷 期:2024年第8期
页 面:18-20页
学科分类:08[工学] 0812[工学-计算机科学与技术(可授工学、理学学位)]
摘 要:现有RISC-V不能同时接收来自一般外设的线中断和PCIe设备的MSI中断,且在响应中断时需频繁切换HART的特权模式而导致效率下降。文章基于AIA高级中断架构规范,首次完整设计了一款APLIC,可直接替换现有PLIC,降低软件复杂度,有效提升HART工作效率和系统稳定性,扩展软件测试等功能,并且可以通过将线中断转换成MSI中断,配合IMSIC同时实现线中断和MSI中断。