负热电离质谱技术在锇同位素测定中的应用

作     者：方家骏 孙卫东 彭子成 王兆荣 张巽 

作者机构：美国FinninganMAT质谱公司中国服务站北京100081 中国科学技术大学地球和空间科学系合肥230026 第三世界科学院地球科学和天文学高级研究中心合肥230026 

出 版 物：《质谱学报》 (Journal of Chinese Mass Spectrometry Society)

年 卷 期：1997年第18卷第2期

页      面：7-15页

核心收录：

学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学] 070301[理学-无机化学] 

基　　金：国家自然科学基金!(49573173) 

主　　题：锇同位素 负热电离质谱 N-TIMS 

摘      要：本文用MAT－262质谱仪研究了负热电高质谱技术（N－TIMS）测定Os同位素组成的一些技术问题，首次采用样品与氧化剂一起点样等方法，配合通氧气（gasbleeding），显著地提高了电高效率，所获得的高于流强度明显高于文献值。获得的非放射成因Os同位素组成与国际著名实验室的数据一致，在样品量为0．2ng时仍获得了高精度的测试数据，明显优于现已发表的ICP－MS测试结果。可以测定多数地质样品中痕量（10－9～10－12）Os的同位素组成，为拓展我国Os同体素地球化学研究提供了高精度的测试手段。