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上海微技术工研院牵手NI开展微波芯片测试技术研发

出版物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年卷期：2016年第24卷第3期

页面：296-296页

主　　题：芯片测试测试技术工业研究院联合实验室微技术物联网 RFIC 半导体技术科技动态脉冲产生

摘要：上海微技术工业研究院（SITRI）作为致力于＂超越摩尔＂半导体技术及物联网应用研发和产业化的协同创新中心,宣布与美国国家仪器公司（National Instruments,简称NI）签署合作,联合成立＂射频及微波芯片（RFIC/MMIC）测试技术联合实验室＂,

本地馆藏 |

1、借阅数量：每证可借书6册，期刊2册，团体读者证可借书刊300册。 2、借阅时间：个人借期为30天，每本书可续借1次，借期为30天；团体借期为90天。 3、归还地点：3楼服务台、自助借还设备、还书箱、各分馆 4、馆际互借：读者未能在本馆获取所需文献资料，可至参考咨询阅览室服务台填写《南通市图书馆馆际互借读者申请表》，根据馆际互借协议，我馆将为读者向其他馆代借文献。馆际互借过程中所产生的费用（资料复印、邮寄费等），由读者个人承担。 5、服务电话续借：59003605 59003606 咨询：81100100 59003600

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