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LTCC生瓷带缺陷分析与改善对策

Defects Analysis and Improvement of in LTCC Green Tape

作     者:吴纪锐 张志伟 陈樱琳 朱思新 林亚梅 WU Jirui;ZHANG Zhiwei;CHEN Yinglin;ZHU Sixin;LIN Yamei

作者机构:深圳振华富电子有限公司广东深圳518000 

出 版 物:《电子工艺技术》 (Electronics Process Technology)

年 卷 期:2024年第45卷第4期

页      面:59-62页

学科分类:08[工学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

主  题:生瓷带 缺陷分析 缺陷改善 

摘      要:针对低温共烧陶瓷10~40μm生瓷带生产过程中遇到的缺陷问题,从材料、工艺等多个方面做了详细的分析与验证,确定了导致缺陷的根本原因。提出了通过优化材料形貌、调整浆料配方、控制流延工艺等措施,改善了生瓷带的生产缺陷。

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