宽禁带半导体器件开关振荡研究综述
A Review of Switching Oscillation in Wide Band Gap Semiconductor Devices作者机构:北京智慧能源研究院北京市昌平区102209 新能源电力系统国家重点实验室(华北电力大学)北京市昌平区102206
出 版 物:《中国电机工程学报》 (Proceedings of the CSEE)
年 卷 期:2024年第44卷第6期
页 面:2386-2407,I0026页
核心收录:
学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学]
基 金:国家电网公司总部科技项目(5500-202158438A-0-0-00)
主 题:宽禁带半导体 振荡 阻尼振荡 自持振荡 反馈 负电阻
摘 要:宽禁带半导体器件具有高频、高效率、高功率密度等优点。然而,低寄生电容、低阈值电压和快速开关等特性也使它们更容易受到开关振荡的影响。该文综述开关振荡的类型、产生机理、敏感参数以及抑制方法。首先,依据波形特征将振荡分为阻尼振荡及自持振荡两类;其次,建立开关振荡分析模型,包括器件模型和开关电路模型,依托该模型研究两种振荡的机理、敏感参数以及各敏感参数对振荡特性的影响规律;再次,分析两类开关振荡的差异性和关联性;最后,总结抑制开关振荡的主要方法,并对各种方法的优缺点进行比较分析。对前人研究成果进行总结和延伸,期望帮助研究人员更好地将宽禁带器件应用于高频高功率变换工况。