全捷联成像导引头隔离度与寄生回路稳定性研究

作     者：温求遒 李然 夏群利 Wen Qiuqiu;Li Ran;Xia Qunli

作者机构：北京理工大学宇航学院北京100081 中国兵器科学研究院北京100089 

出 版 物：《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)

年 卷 期：2014年第43卷第1期

页      面：260-266页

核心收录：

学科分类：08[工学] 081105[工学-导航、制导与控制] 0804[工学-仪器科学与技术] 0811[工学-控制科学与工程] 

基　　金：中国博士后科学基金一等资助(2008M00006) 中国博士后科学基金特别资助(2012T50048) 国家部委预研项目(102070202) 

主　　题：全捷联成像导引头 视线角速度 隔离度 寄生回路 

摘      要：针对全捷联成像导引头视线角速度提取中隔离度及其带来的寄生回路稳定性问题,首先建立了考虑惯性测量装置和捷联探测器动力学的视线角速度提取模型并进行了简化。选取传感器动力学、信号处理延时、刻度尺为主要误差源,对由其造成的视线角速度隔离度幅值及相角变化规律进行了分析。进一步通过构建相应对应全捷联导引头隔离度寄生回路模型,计算了寄生回路稳定域并给出允许误差边界。分析结论表明,视线角速度提取过程中存在的以上误差将带来远较平台导引头大的隔离度问题,并导致寄生回路失稳,因此需在信号处理过程中进行修正。