解决工业级系统失效率和寿命的方案中的应用举措及新趋势
Application measures and new trends in the solution of failure rate and life of industrial system出 版 物：《磁性元件与电源》 (Components and Power)
年 卷 期：2023年第9期
页 面：167-172页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
摘 要：本文仅将对SiCMOSFET的快速短路检测与保护和IGBT和MOSFET免受ESD损坏与静电击穿及新型静电防护(ESD)技术等二大热点作研讨。与此同时对伴随可靠性解决方案中的SiCMOSFET的快速短路检测与保护及高速SoC和RFIC电磁串扰解决方案应用中举措及新趋势作分析说明。
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