咨询与建议

看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >X射线对复合绝缘子内部缺陷的透照检测和诊断 收藏

X射线对复合绝缘子内部缺陷的透照检测和诊断

Application of X-ray Technology in Composite Insulators Defect Diagnosis

作     者:闫文斌 王达达 李卫国 赵现平 于虹 彭庆军 徐卓 张辉 YAN Wen-bin;WANG Da-da;LI Wei-guo;ZHAO Xian-ping;YU Hong;PENG Qing-jun;XU Zhuo;ZHANG Hui

作者机构:华北电力大学云南电网公司研究生工作站昆明650217 华北电力大学北京102206 云南电力试验研究院集团有限公司电力研究院昆明650217 云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院昆明650217 

出 版 物:《高压电器》 (High Voltage Apparatus)

年 卷 期:2012年第48卷第10期

页      面:58-66页

学科分类:080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

主  题:复合绝缘子 X射线 芯棒 伞裙 护套 无损检测 数字平板成像技术 

摘      要:复合绝缘子因其质轻耐污强度高和易维护,在中国已挂网运行近千万只,但是复合绝缘子因其特殊性,传统绝缘子的检测方法对其并不完全适用,复合绝缘子的发展亟待新型检测技术的出现。笔者运用X射线透视检测技术对复合绝缘子进行透照能力验证并得到推荐参数后,利用该参数对伞套区、芯棒区、伞套与芯棒胶结面、金具区段等4大区域的模拟缺陷进行检测,对成批的复合绝缘子进行现场检测,所获X射线成像图上复合绝缘子内部结构直观可见、缺陷类型及其位置清晰可辨、护套厚度芯棒直径等可测。研究结果可作为X射线透视检测技术对复合绝缘子进行缺陷检测以及型式检测的实践参考依据。

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分