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基于SPICE模型的运算放大器ESD故障机制分析

Analysis of ESD Failure Mechanism of Operational Amplifier Based on SPICE Model

作     者:史如新 嵇建飞 张伟 SHI Ru-xin;JI Jian-fei;ZHANG Wei

作者机构:国网江苏省电力有限公司常州供电分公司常州1213000 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院南京210094 

出 版 物:《环境技术》 (Environmental Technology)

年 卷 期:2023年第41卷第6期

页      面:109-113页

学科分类:08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术(可授工学、理学学位)] 

基  金:中国国家电网公司科技项目 项目编号:5500-202055070A-0-0-00 

主  题:ESD 故障机制 MOS 运算放大器 SPICE模型 

摘      要:运算放大器是智能电网中重要的电路元器件,其性能对电网的正常运行具有至关重要的影响。为了提高智能电网的安全性和稳定性,需要对运算放大器在复杂的电磁环境下的可靠性进行验证。本文以UA741模拟集成运算放大器为研究对象,通过分析典型静电放电(ESD)干扰下的电磁效应,研究了基于SPICE模型的MOS的电压和电流特性以及故障机制。通过定位故障MOS,为进一步研究ESD抑制提供了理论依据。本研究结果对于提高智能电网中电路和电力设备的抗干扰能力,保障电网的稳定运行具有重要意义。

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