分析高热惊厥患儿的危险因素与其脑电图检查结果的联系
作者机构：空军军医大学第一附属医院陕西西安710032
出 版 物：《中国科技期刊数据库 医药》
年 卷 期：2021年第8期
页 面：225-225,227页
学科分类：1002[医学-临床医学] 100202[医学-儿科学] 10[医学]
摘 要：探究高热惊厥患儿的危险因素与其脑电图检查结果的联系。方法:以2018年5月-2020年5月高热惊厥患儿500例为研究对象,对其临床资料进行回顾性的分析,分析其高热惊厥及脑电图检查异常改变的危险因素。结果:80.40%者脑电图检查结果正常,19.60%者脑电图检查结果异常,发病年龄、体温、发作次数、发作持续时间、家族史、出生史等是影响高热惊厥患儿脑电图异常的主要因素(P0.05)。结论:高热惊厥患儿出现脑电图异常改变的原因较多,实施脑电图检查,能够更好判断患儿的病情,评估其预后情况,为患儿疾病治疗方案的制定提供参考依据。
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