电感耦合等离子体原子发射光谱法测定金属铟中铟及12种杂质元素
Determination of indium and twelve impurity elements in metal indium by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry作者机构：昆明冶金研究院有限公司
出 版 物：《冶金分析》 (Metallurgical Analysis)
年 卷 期：2022年第42卷第9期
页 面：61-67页
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 080502[工学-材料学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0703[理学-化学]
主 题：电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES) 金属铟 杂质元素 铟
摘 要：YS/T 257-2009规定In99995、In9999两种牌号铟锭中铟含量为100%减去所列Cu、Pb、Cd、Fe、Tl、Sn、As、Al、Zn杂质总和的余量，而In980牌号铟锭中铟含量则采用直接测定值。市场中存在大量铟含量为98.0%～99.99%(质量分数，下同)的金属铟产品，这类产品一般含有Cu、Pb、Cd、Fe、Tl、Sn、As、Al、Zn、Bi、Sb、Cr等12种杂质元素，而采用YS/T 267.9-2011分析铟含量的范围为95.00%～99.50%,未涵盖99.50%～99.99%铟，因此有必要建立测定这类金属铟中主量铟及Cu、Pb、Cd、Fe、Tl、Sn、As、Al、Zn、Bi、Sb、Cr等12种杂质元素的方法。实验采用硝酸(1+1)溶解样品，并加入酒石酸络合Bi、Sb、Sn避免其水解，建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定金属铟(98.0%～99.99%)中12种杂质元素的方法，并通过减量法计算得到了铟含量。干扰试验表明样品中的共存元素对测定无干扰。方法中各杂质元素的测定范围分别为0.000 3%～2%(Cu、Cd、Fe、Al、Cr),0.000 5%～2%(Sb、Sn),0.001%～2%(As、Bi、Pb、Tl、Zn)。12种杂质元素的校准曲线线性相关系数均大于0.999 5。方法中Al、As、Bi、Cd、Cu、Fe、Pb、Sb、Sn、Tl、Zn、Cr的检出限为0.000 97～0.052μg/mL,定量限为0.003 2～0.17μg/mL。按照实验方法测定金属铟中12种杂质元素，结果的相对标准偏差(RSD,n=10)不大于3.0%;回收率为98%～105%。按实验方法测定并由减量法计算得到铟的含量，与YS/T 267.9-2011中NaEDTA滴定法的测定结果相一致。方法有效地解决了99.50%～99.99%这部分金属铟产品中铟含量的测定问题，同时还可以分析出样品中杂质元素的含量。
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