OLED显示残像研究进展

作     者：翁乐 史大为 郭建 喻志农 WENG Le;SHI Da-wei;GUO Jian;YU Zhi-nong

作者机构：北京理工大学光电学院北京市混合现实与先进显示技术工程研究中心北京100081 重庆京东方显示技术有限公司重庆400714 

出 版 物：《液晶与显示》 (Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays)

年 卷 期：2022年第37卷第9期

页      面：1140-1150页

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0810[工学-信息与通信工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 0703[理学-化学] 081001[工学-通信与信息系统] 

基　　金：国家重点研发计划(No.2021YFB3600703) 国家自然科学基金(No.61874009) 

主　　题：有机发光二极管 残像 薄膜晶体管 柔性显示 

摘      要：有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)显示技术通过有机材料的自主发光,展现出广色域、低能耗、柔性化等优点,是最具发展潜力的显示技术之一。目前OLED显示仍存在寿命短、亮度低和可靠性差等问题,这些问题最终导致残像现象的发生,本文旨在分析和总结OLED显示残像问题的研究进展和相关解决方案。首先,阐释了OLED显示残像问题与OLED材料寿命和薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)稳定性的关联,关注柔性与刚性OLED器件的结构差异,进一步总结、归纳了OLED残像的产生机制。其次,针对不同的残像诱发原因,讨论了缓解和补偿OLED显示残像的方法,包括提升OLED有机材料寿命和TFT阈值电压稳定性、外部补偿电路等方案。最后,对OLED显示残像问题的进一步解决办法进行了展望。