基于水平分置线性双阵列的超声全聚焦成像方法在粗晶材料检测中的应用

作     者：庄泽宇 廉国选 王小民 ZHUANG Zeyu;LIAN Guoxuan;WANG Xiaomin

作者机构：中国科学院声学研究所声场声信息国家重点实验室北京100190 中国科学院北京100049 

出 版 物：《声学技术》 (Technical Acoustics)

年 卷 期：2022年第41卷第3期

页      面：355-362页

学科分类：08[工学] 080502[工学-材料学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 

基　　金：船舶建造焊缝质量数字化检测技术资助项目 

主　　题：超声检测 阵列成像 粗晶材料 双阵列 

摘      要：针对粗晶材料超声检测信噪比低的问题,提出了一种水平分置线性双阵列超声成像方法。将两个线阵超声换能器沿直线水平分置在待检区域表面两侧,用收发分离的信号采集模式,一侧激发,另一侧记录各通道数据,进行聚焦成像。相比单阵列和同位置双线阵检测,文中的方法有效地减少了背向散射信号对缺陷信号的干扰,提高了成像信噪比。在粗晶铜质试块上的成像实验结果表明,当缺陷距离阵列较近时,文中的方法优于单阵列和同位置双线阵方法,成像信噪比提高约5~10 dB;当缺陷距离阵列较远时,单阵列模式和同位置双线阵检测方法失效,但文中的方法依然可以识别缺陷。文中的研究为粗晶材料的超声检测提供了一种可行的方案。