频率源噪声对双基SAR成像的影响及评估
Impact and estimation of frequency source noise on bistatic SAR作者机构：电子科技大学电子工程学院四川成都610054
出 版 物：《系统工程与电子技术》 (Systems Engineering and Electronics)
年 卷 期：2010年第32卷第2期
页 面：275-278页
核心收录：
学科分类：080904[工学-电磁场与微波技术] 0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 0802[工学-机械工程] 0811[工学-控制科学与工程]
摘 要：在双基合成孔径雷达(synthetic aperture radar,SAR)中两个独立的频率源相位噪声直接叠加在一起,严重影响系统的成像质量。根据频率源相位噪声的二阶统计特性,定量分析了频率源相位噪声对双基SAR图像偏移、聚焦精度以及积分旁瓣比等参数的影响,导出了不同波段下频率源相位噪声对双基合成孔径雷达成像系统相干积累时间的限制。研究结果进一步完善了双基SAR成像理论体系,为系统的设计提供了理论依据。
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