线粒体ATP敏感性钾通道在头部浅低温减轻大鼠全脑缺血再灌注损伤中的作用

作     者：董振明 薄立军 韩建民 黄立宁 康荣田 曹瑞旗 吴文浩 DONG Zhen-ming;BO Li-jun;HAN Jian-min

作者机构：河北医科大学第二医院麻醉科石家庄市050031 

出 版 物：《中华麻醉学杂志》 (Chinese Journal of Anesthesiology)

年 卷 期：2009年第29卷第1期

页      面：64-67页

核心收录：

学科分类：1002[医学-临床医学] 100204[医学-神经病学] 100217[医学-麻醉学] 10[医学] 

主　　题：钾通道 低温,人工 再灌注损伤 脑 

摘      要：目的评价线粒体ATP敏感性钾通道在头部浅低温减轻大鼠全脑缺血再灌注损伤中的作用。方法健康雄性SD大鼠32只，体重200～250g，随机分为4组（n=8）：假手术组（S组）、全脑缺血再灌注组（I／R组）、头部浅低温组（H组）和5-羟基葵酸钠组（5-HD组）。采用三血管阻断法建立大鼠全脑缺血再灌注模型。S组仅分离血管，不阻断；I／R组制备大鼠全脑缺血再灌注模型；H组于再灌注前即刻实施头部浅低温（使鼓膜温度在1min内降至32～34℃），维持3h后复温；5-HD组于缺血前30min腹腔注射5-羟基葵酸钠10mg／kg，于再灌注前即刻实施头部浅低温。于再灌注12h时评估大鼠神经行为学（跨格次数和转体时间），采用ELISA法测定血清神经元特异性烯醇化酶（NSE）的浓度，电镜下观察额叶皮质神经元的超微结构。结果与S组比较，I／R组、H组和5-HD组跨格次数减少，转体时间延长，I／R组和5-HD组血清NSE浓度升高（P〈0．05），H组血清NSE浓度差异无统计学意义（P〉0．05）；与I／R组比较，H组跨格次数增多，转体时间缩短，血清NSE浓度降低，5-HD组转体时间缩短（P〈0．05），其余指标差异无统计学意义（P〉0．05）；与H组比较，5-HD组跨格次数减少，转体时间延长，血清NSE浓度升高（P〈0．05）。H组额叶皮质神经元病理学改变较I／R组和5-HD组减轻，5-HD组与I／R组损伤程度相似。结论头部浅低温减轻大鼠全脑缺血再灌注损伤可能与开放线粒体ATP敏感性钾通道有关。