基于压电陶瓷片的Lamb波单模态激励及缺陷检测的实验研究
Experimental Research on Excitation of Single Mode of Lamb Waves and Defect Detection by Using Piezoelectric Ceramic Wafers作者机构:北京工业大学机械工程及应用电子技术学院北京100124
出 版 物:《北京工业大学学报》 (Journal of Beijing University of Technology)
年 卷 期:2011年第37卷第10期
页 面:1453-1458页
核心收录:
学科分类:07[理学] 08[工学] 070206[理学-声学] 0802[工学-机械工程] 0702[理学-物理学]
基 金:NSFC-RGC联合资助项目(60831160523) 国家自然科学基金资助项目(50975006 10972014) 北京市自然科学基金资助项目(2072003) 北京市科技新星计划项目(2008A015) 北京市优秀人才培养资助项目(20081B0501500173)
摘 要:为了激励Lamb波单一模态的S0和A0,采用2个相同的直径14 mm、厚0.8 mm的压电陶瓷片对称粘贴在2 mm厚的有机玻璃板上作激励传感器,在另一位置布置同一尺寸的压电陶瓷片作接收传感器.采用一发一收法,在低于100 kHz的频段内,激励传感器在板中分别单片、2片对称和反对称并联激励Lamb波,分析接收信号中模态成分的变化.并在此基础上,采用3种不同的激励Lamb波的方式对板中模拟缺陷进行了检测.实验结果表明,在一定频段内,对称并联激励压电陶瓷片可以有效抑制A0模态,得到较为单一的S0模态,而反对称并联激励压电陶瓷片能有效抑制S0模态,得到较为单一的A0模态;激励的Lamb波信号中模态越单一,缺陷回波越易识别.