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微系统Interposer测试技术与发展趋势

Research status and development trends of Interposer test technology on micro-system

作     者:秦贺 武昊男 魏晓飞 李晓龙 冯长磊 QIN He;WU Haonan;WEI Xiaofei;LI Xiaolong;FENG Changlei

作者机构:北京微电子技术研究所北京100076 

出 版 物:《遥测遥控》 (Journal of Telemetry,Tracking and Command)

年 卷 期:2021年第42卷第5期

页      面:63-69页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 

主  题:微系统 Interposer 测试 TSV RDL 

摘      要:随着微系统技术向三维立体集成不断发展,Interposer技术逐渐成为关注的焦点,是未来电子系统小型化和多功能化的重要技术途径,具有广阔的应用市场和发展前景。关于Interposer的测试技术研究也提上发展日程。对目前Interposer测试技术的研究现状和发展趋势进行了综述,重点总结了研究机构在Interposer测试技术领域的研究现状,并对技术发展趋势做了简单展望。

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